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Fatband analysis
Fatband 分析，也被称为投影态密度（Projected Density of States，PDOS）分析，是一种在固体物理中常用的方法，用于研究固体材料的电子结构。在这种分析中，我们不仅关心整个系统的能带结构，而且还关心各个原子轨道对能带的贡献。
在 fatband 分析中，我们通常会将能带结构图中的每个能带的宽度（或颜色）设置为与特定原子轨道的投影态密度成比例。这样，我们就可以直观地看到各个原子轨道对能带的贡献，从而更好地理解材料的电子结构。
例如，我们可能对一个复合材料中的某种特定元素的 d 轨道对能带结构的贡献感兴趣。通过进行 fatband 分析，我们就可以清楚地看到这种元素的 d 轨道在各个能级上的贡献，从而更好地理解这种元素在材料中的作用。
在进行 fatband 分析时，我们通常需要使用一些专门的软件工具，如 VASP、Quantum ESPRESSO 等，这些工具可以计算出投影态密度，并将其以图形的形式展示出来。
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